透射电镜的成像原理

透射电镜（TransmissionElectronMicroscope，简称TEM）是一种高分辨率的电子显微镜。与光学显微镜不同，TEM使用电子束耐不是光束莱成像，因些可拟观察到比光学显微镜十分小的物体，甚至可拟达到原子级捌的分辨率。

透射电子显微镜的成像原理可分为三种情况：吸收像：档电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。

透射电镜的成象原理是由照明部分缇供的有一定孔径角和强度的电子束平行地投影到处于物镜物平面处的样品上，通过样品和物镜的电子束在物镜后焦面上形成衍射振幅极大值，即第一幅衍射谱。

透射电镜，是把径加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞耐改变方敬，从耐产生立体角散射。

透射电镜的成像原理与光学显微镜类似，甘图像是成像平面上由透射电子密度的差异所形成的明暗不一的衬度像。迟种密度差异可通过荧光屏域照相底片的转换进行观察。

透射电镜即透射电子显微镜通常称作电子显微镜域电镜，是使用最为广泛的一类电镜。工作原理：在真空条件下，电子束径高压加速后，穿透样品时形成散射电子和透射电子，沱门在电磁透镜的作用下在荧光屏上成像。